München, Juli 2022 – Unter wissenschaftlicher Leitung von Instrument Systems hat das Technical Committee TC2-80 der CIE einen neuen Technischen Report zu spektralradiometrischen Messungen von optischen Strahlungsquellen erstellt. Das jetzt als CIE 250:2022 veröffentlichte Dokument löst den fast 40 Jahre alten Bericht CIE 063-1984 ab. Praxisorientiert erklärt er die grundlegenden Messprinzipien und gibt praktische Hinweise für die Messung von Bestrahlungsstärke, Strahlungsdichte, Strahlungsintensität und Strahlungsfluss sowie die Instrumenten-Kalibrierung. Darüber hinaus beschreibt der Bericht detailliert die physikalischen Effekte, die für spektralradiometrische Messungen und insbesondere die Abschätzung von Messunsicherheiten relevant sind. Die bei jeder Messung auftretenden Messunsicherheiten bestimmen für rückführbare Messwerte quantitativ die Genauigkeit der Kalibrierkette.

Der Technische Report CIE 250:2022 kann im Online-Shop der CIE erworben werden.

Auf der Light+Building in Frankfurt erfahren die Besucher am Stand von Instrument Systems vom 2.-6.10.2022 mehr über hochpräzise und rückführbar kalibrierte Lichtmessgeräte (Halle 8.0 H38).

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