In dem Workshop werden die neue DIN ISO 101107:2018-7 und ihre Verbindung zur ANSI/OEOSC OP1.002 bzw. MIL-PRF-13830B vorgestellt und ihre Angaben erläutert. Es wird auch die neue Messnorm DIN ISO 14997:2018-05 besprochen.
Die Frage nach „Sauberkeiten“ auf optischen Oberflächen, heute korrekterweise Oberflächenunvollkommenheiten, in früheren Ausgaben der DIN ISO 10110-7 auch Oberflächenfehler genannt, führt oft zu Fragestellungen der richtigen Einschätzung und Beurteilung. Als übersetzte, neue DIN ISO-Normen liegen vor: DIN ISO 10110-7: 2018-05 und DIN ISO 14997:2018-05. Die wesentlichste Neuerung besteht in einer neuen Angabemöglichkeit zu der Sichtbarkeit der Oberflächenunvollkommenheiten zusätzlich zu der bestehenden Abmessungsspezifikation. Inhaltlich besteht sie in der Einbindung der Spezifikationen, wie sie in den Angaben nach „scratch/dig“ (amerikanischen Norm ANSI/ OEOSC OP1.002, bzw. der älteren Militärnorm MILPRF-13830B) auftreten.
Der Kurs versetzt Sie in die Lage, folgende Fragen zu beantworten:
Zielgruppe: Techniker, Meister, Ingenieure, die Zeichnungen für optische Komponenten erstellen, diese spezifizieren, einkaufen oder prüfen.
Datum
29.09.2020
08:00 Uhr
- 11:00 Uhr
Stadt
Wetzlar
Veranstaltungsort
Hotel Wetzlarer Hof, Obertorstr. 3
Referenten
Referent Dr. Manfred Thomae
Unser Referent Dr. Thomae war ehemals bei der Firma Leica Microsystems CMS GmbH, Wetzlar, im Leica Optic Center. Er ist Mitarbeiter und Projektleiter seit 2002 im DIN Arbeitsausschuss NA027-01-02 und seit 2008 im ISO TC 172 SC1, welche die Normen ISO 10110 erstellen und verausgaben.
Veranstalter
Preis (zzgl. MwSt.)
Nicht-Mitglied: 190,00 €
Mitglieder: 170,00 €