Was passiert, wenn Rasterelektronenmikroskopie, fokussierter Ionenstrahl und chemische Massenspektrometrie in einem einzigen System zusammenkommen? Keine Science-Fiction – sondern das neue Helios 5 DualBeam mit integriertem ToF-SIMS.
Dieses hochmoderne FIB-SEM-System eröffnet neue Möglichkeiten in der Material- und Bioanalytik. Struktur und Chemie lassen sich gleichzeitig, dreidimensional und im Nanometermaßstab analysieren – in nur einem Messlauf.
Ermöglicht wird dies durch das erstmals in Europa integrierte ToF-SIMS-System der neuesten Generation auf der Helios-5-Plattform. Die Analysen sind effizient und hochpräzise, z. B. für
- biologische Proben: Hochaufgelöste 3D-Bilder und molekulare Kartierungen – ganz ohne Markierung
- Oberflächen & Kontaminationen: Zuverlässige Detektion von Partikeln und Rückständen, z. B. für biokompatible oder hygienisch sensible Materialien
- Werkstoffe & Beschichtungen: Präzise Einblicke in Schichtaufbau, Zusammensetzung und Defekte zur gezielten Optimierung von Materialeigenschaften
Kurz gesagt: Für alle, die den strukturellen Aufbau und die chemische Zusammensetzung ihrer Materialien wirklich verstehen möchten, liefert die ILM-Auftragsanalyse Antworten direkt aus dem Nanokosmos.
Dr. Michael Haupt (michael.haupt@ilm-ulm.de) erörtert gerne mit Ihnen Ihre konkrete Fragestellung.